IC老化座 QFN32-0.5老化座 QFN32编程测试座 射频IC测试座间距0.5详细内容
QFN32翻盖弹片测试座
产品简介
产品用途 编程座、测试座,对QFN32的IC芯片进行烧写、测试
适用封装 QFN32引脚间距0.5mm
测试座 QFN32-0.5
特点 底部引出引脚为不规则排列
规格尺寸
QFN32编程座/测试座适用芯片详细规格,以及适配座外形尺寸:
型号 引脚间距(mm) 脚位 芯片尺寸
QFN-32-0.5 0.5 32 5*5
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主要经营仪器仪表相关产品。
单位注册资金单位注册资金人民币 250 - 500 万元。
我们公司主要供应IC测试座,IC老化座,IC测试治具等产品,我们的产品货真价实,性能可靠,欢迎电话咨询!